Machine vision systems for inspection and metrology VII - 4-5 November, 1998, Boston, Massachusetts
- Författare
- (Bruce G. Batchelor, John W.V. Miller, Susan Snell Soloman, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1998 | USA | xi, 386 sidor. : ill. 28 cm | 0-8194-2982-1 |